什么是測試探針?

測試探針(Test probe)，是精密電測試過程中必不可少的部件。在電子電路研發和生產的過程中，經常需要對信號的通斷以及質量進行測試分析，使用精密測試探針將信號無損的接取出來提供給相應的ICT或者測試系統進行整合分析，測試探針質量的好壞，很大程度影響了測試的準確性以及可重復性。

在PCBA測試環節，通常會制作專門的測試治具（test jig），這些治具會安裝有探針，用來與PCBA測試點進行接觸。通過這種方式，可以測試出PCBA的性能參數，包括但不限于連接器的接觸電阻、絕緣電阻、耐壓性能等。

探針是如何組成?

探針是由針頭、針管及彈簧3個基本結構組成的測試針，用于檢測線路板中的各類電子元器件。

 探針的彈力是不是越大越好?

根據經驗可以看到，彈簧力應該盡可能低，這樣才能夠讓負荷盡可能少；但彈簧力同時也要足夠高，以確保良好的電接觸，彈簧力不足又會引起接觸不良等；因此需要彈簧力，針頭形狀、測試環境等因素來考慮。

推薦使用：一般扎針測試可以用2N以上，界面針很多且常壓接觸的可以用1.5N左右；有時候也看客戶是否有要求；

探針的種類
ICT在線測試針主要應用于在線電路測試和功能測試，也稱ICT和FCT測試，也是目前應用較多的一種探針。
高頻針用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈。

大電流探針用于很多使用高電流的行業和應用；應用用途是精確測量，針對該用途要用內電阻很低的測試探針。

雙頭針用于BGA測試使用，比較緊密，做工要求比較高，一般檢測手機IC芯片、筆記本電腦IC芯片、平板電腦以及通訊IC芯片等等，針身直徑在于0.25MM~0.58MM之間。

開關探針單獨一支探針有 兩路電流，控制電路的常開常閉功能。

界面針主要用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面，附圖右邊即為界面，用于將信號進行無線轉接。